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三星存內(nèi)計(jì)算登Nature,全球首搭MRAM,鋪路下一代AI芯片

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三星存內(nèi)計(jì)算登Nature,全球首搭MRAM,鋪路下一代AI芯片

人臉檢測(cè)和手寫(xiě)數(shù)字分類準(zhǔn)確率分別為93%和98%。

文|芯東西

編譯|高歌

芯東西1月17日?qǐng)?bào)道,近日,三星電子在頂級(jí)學(xué)術(shù)期刊Nature上發(fā)表了全球首個(gè)基于MRAM(磁性隨機(jī)存儲(chǔ)器)的存內(nèi)計(jì)算研究。

存內(nèi)計(jì)算由于毋需數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)器和處理器間移動(dòng),大大降低了AI計(jì)算的功耗,被視作邊緣AI計(jì)算的一項(xiàng)前沿研究。雖然MRAM存儲(chǔ)器件具備耐用性、可大規(guī)模量產(chǎn)等優(yōu)勢(shì),但其小電阻的特性阻礙了這類存儲(chǔ)器被用于存內(nèi)計(jì)算。

本次,三星電子的研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)構(gòu)建新的MRAM陣列結(jié)構(gòu),用基于28nm CMOS工藝的MRAM陣列芯片運(yùn)行了手寫(xiě)數(shù)字識(shí)別和人臉檢測(cè)等AI算法,準(zhǔn)確率分別為98%和93%。

01.研究擴(kuò)展存內(nèi)計(jì)算類型,填補(bǔ)MRAM空白

在傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)架構(gòu)中,數(shù)據(jù)需要從內(nèi)存移動(dòng)到處理單元,然后將中間結(jié)果存儲(chǔ)回內(nèi)存。但這種無(wú)謂的信息傳輸不僅增加了計(jì)算延遲,也提升了相關(guān)功耗。

根據(jù)臺(tái)積電此前對(duì)存內(nèi)計(jì)算的研究,數(shù)據(jù)移動(dòng)所消耗的能量甚至大于計(jì)算的能量消耗。因此,在內(nèi)存中同時(shí)執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和計(jì)算的存內(nèi)計(jì)算成為了行業(yè)與學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)研究的焦點(diǎn)。

此前的研究中,非易失性的RRAM(電阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和PRAM(相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)是存內(nèi)計(jì)算最常用的兩類存儲(chǔ)器。相比之下,盡管MRAM器件在操作速度、耐用性和量產(chǎn)等方面具有優(yōu)勢(shì),但其較低的電阻使MRAM存儲(chǔ)器在傳統(tǒng)的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)中無(wú)法達(dá)到低功耗要求。

在本篇論文中,三星電子的研究人員構(gòu)建了一種基于MRAM的新存內(nèi)計(jì)算架構(gòu),填補(bǔ)了這種空白。論文特別寫(xiě)道,該研究并非和基于其他存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)競(jìng)爭(zhēng)。到目前為止,沒(méi)有一種存儲(chǔ)器類型在電子產(chǎn)品中占據(jù)絕對(duì)主導(dǎo),因?yàn)椴煌愋偷拇鎯?chǔ)器各有自身的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。因此,基于不同存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算也可能發(fā)展成不同的架構(gòu)。

從這個(gè)角度看,三星電子通過(guò)填補(bǔ)基于MRAM存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)空白,有助于存內(nèi)計(jì)算發(fā)展。

02.基于28nm CMOS工藝,準(zhǔn)確檢測(cè)1851張人臉

三星電子構(gòu)建了一個(gè)64×64的MRAM陣列,其外圍電路通過(guò)28nm CMOS工藝進(jìn)行了集成。

具體結(jié)構(gòu)上來(lái)說(shuō),MRAM陣列在寫(xiě)/讀(W/R)電子元件和底部的TDC讀出電子元件之間,輸入數(shù)據(jù)控制器(IN)位于陣列左側(cè)。

為了彌補(bǔ)MRAM小電阻的問(wèn)題,三星電子引入了一種新的位單元(陣列行列交叉處的元素,bit-cell),每個(gè)位單元組合成兩條路徑,每條路徑則由一個(gè)MTJ(磁性隧道結(jié))和一個(gè)FET(場(chǎng)效應(yīng)管)開(kāi)關(guān)串聯(lián)組成。

▲芯片布局與MRAM陣列排布(圖片來(lái)源:Nature)

研究人員將每列中這些新的位單元串聯(lián)起來(lái),每個(gè)位單元的輸出電阻相加便得到了列電阻R。通過(guò)新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),列電阻R取代了傳統(tǒng)(存內(nèi)計(jì)算)結(jié)構(gòu)中基于基爾霍夫定律的列電流總和,成為了列輸出,解決了MRAM器件電阻較小的問(wèn)題。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是三星電子開(kāi)發(fā)了一種MRAM陣列芯片,用新的“電阻總和”內(nèi)存計(jì)算架構(gòu)取代了標(biāo)準(zhǔn)的“電流和”內(nèi)存計(jì)算架構(gòu),從而解決了單個(gè)MRAM器件的小電阻問(wèn)題。

為了將這種新的MRAM陣列用于AI計(jì)算,研究人員采用了二值神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BNN)算法。這種算法的精度可以以網(wǎng)絡(luò)大小為代價(jià),將每個(gè)實(shí)值權(quán)值表示為二值化函數(shù),或以計(jì)算速度為代價(jià)將每個(gè)實(shí)值輸入數(shù)據(jù)表示為多個(gè)二值化函數(shù)序列,以提高BNN算法的精度。

該研究中,三星電子采用了后一種方式,將每個(gè)輸入數(shù)據(jù)擴(kuò)展為8位編碼,以抑制噪聲。之后,研究人員用兩層BNN網(wǎng)絡(luò)以對(duì)MNIST數(shù)據(jù)集進(jìn)行分類。

MNIST數(shù)據(jù)集來(lái)自美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(NIST),訓(xùn)練集和測(cè)試集均由不同的手寫(xiě)數(shù)字組成,數(shù)據(jù)集和測(cè)試集50%的手寫(xiě)數(shù)字來(lái)自高中生,另外50%來(lái)自美國(guó)人口普查局的工作人員。

▲不同的手寫(xiě)數(shù)字7(圖片來(lái)源:CSDN)

研究人員用MRAM陣列執(zhí)行了對(duì)1萬(wàn)個(gè)手寫(xiě)數(shù)字圖像的分類,并重復(fù)了三次,得到了93.23±0.05%的準(zhǔn)確率。測(cè)試后,研究人員又通過(guò)VGG-8神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)1萬(wàn)個(gè)手寫(xiě)數(shù)字圖像進(jìn)行了分類,其準(zhǔn)確率高達(dá)98.86±0.06%。

除了手寫(xiě)數(shù)字分類,三星電子還用4個(gè)MRAM陣列芯片運(yùn)行了人臉檢測(cè)算法。在這一步,MRAM陣列芯片并沒(méi)有對(duì)場(chǎng)景中的所有對(duì)象進(jìn)行人臉認(rèn)證,而是先檢測(cè)場(chǎng)景中是否存在人臉,確認(rèn)存在后再激活更高功率的人臉認(rèn)證算法。

通過(guò)這種方法,MRAM陣列芯片從2000個(gè)無(wú)遮罩人臉場(chǎng)景中檢測(cè)到1851張人臉,準(zhǔn)確率為92.5%;從500個(gè)遮罩人臉場(chǎng)景中檢測(cè)到483張人臉,準(zhǔn)確率為96.6%,總體準(zhǔn)確率為93.4%。此外,MRAM陣列芯片可以和相機(jī)結(jié)合實(shí)時(shí)檢測(cè)人臉。

▲4個(gè)MRAM陣列芯片與相機(jī)相連實(shí)時(shí)人臉檢測(cè)(圖片來(lái)源:Nature)

03.集成多種器件面臨挑戰(zhàn),未來(lái)或可用于生物神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)

對(duì)于這項(xiàng)研究,研究人員寫(xiě)道,MRAM陣列運(yùn)行存內(nèi)計(jì)算的一個(gè)重要挑戰(zhàn)是構(gòu)建AI SoC(片上系統(tǒng)),將許多陣列和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)字電子設(shè)備進(jìn)行集成。

研究人員還強(qiáng)調(diào),寬泛來(lái)說(shuō),內(nèi)存陣列不僅可以用來(lái)運(yùn)算神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法,也可以作為潛在的生物神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)載體。

2021年9月,三星電子和哈佛聯(lián)合在Nature子刊Nature Electronics上發(fā)表了名為《Neuromorphic electronics based on copying and pasting the brain(基于復(fù)制和粘貼大腦的神經(jīng)形態(tài)電子學(xué))》的論文,提出了一種將大腦神經(jīng)元連接圖(neuronal wiring map)“復(fù)制、粘貼”到高密度3維存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)上的可能。

▲三星此前“復(fù)制、粘貼”大腦的研究(圖片來(lái)源:Nature)

MRAM陣列研究的第一作者Seungchul Jung稱,存內(nèi)計(jì)算與人類大腦的計(jì)算類似,因?yàn)槿祟惖挠?jì)算也發(fā)生在記憶或突觸網(wǎng)絡(luò)中。雖然MRAM陣列當(dāng)前的計(jì)算目的并非模仿大腦,但這種固態(tài)存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)將來(lái)可能會(huì)被用作模擬大腦突觸的平臺(tái)。

04.結(jié)語(yǔ):新研究或?qū)⒇S富三星存內(nèi)計(jì)算產(chǎn)品

近年來(lái),存內(nèi)計(jì)算已逐漸成為產(chǎn)業(yè)界和學(xué)術(shù)界的公識(shí),相關(guān)論文反復(fù)出現(xiàn)在ISSCC和IEDM等電子領(lǐng)域的頂級(jí)會(huì)議中,臺(tái)積電等半導(dǎo)體頭部廠商也都在布局和探索。

三星電子作為全球存儲(chǔ)龍頭,更是一直在關(guān)注存內(nèi)計(jì)算技術(shù)。去年2月,三星電子便公布了其首款集成了AI計(jì)算能力的高帶寬內(nèi)存(HBM),可以節(jié)省70%以上的能耗并提供2倍以上的系統(tǒng)性能。本次基于MRAM的存內(nèi)計(jì)算研究豐富了三星在存內(nèi)計(jì)算領(lǐng)域的布局,未來(lái)或許能夠看到更多類型的存內(nèi)計(jì)算產(chǎn)品出現(xiàn)在市場(chǎng)上。

本文為轉(zhuǎn)載內(nèi)容,授權(quán)事宜請(qǐng)聯(lián)系原著作權(quán)人。

三星

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三星存內(nèi)計(jì)算登Nature,全球首搭MRAM,鋪路下一代AI芯片

人臉檢測(cè)和手寫(xiě)數(shù)字分類準(zhǔn)確率分別為93%和98%。

文|芯東西

編譯|高歌

芯東西1月17日?qǐng)?bào)道,近日,三星電子在頂級(jí)學(xué)術(shù)期刊Nature上發(fā)表了全球首個(gè)基于MRAM(磁性隨機(jī)存儲(chǔ)器)的存內(nèi)計(jì)算研究。

存內(nèi)計(jì)算由于毋需數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)器和處理器間移動(dòng),大大降低了AI計(jì)算的功耗,被視作邊緣AI計(jì)算的一項(xiàng)前沿研究。雖然MRAM存儲(chǔ)器件具備耐用性、可大規(guī)模量產(chǎn)等優(yōu)勢(shì),但其小電阻的特性阻礙了這類存儲(chǔ)器被用于存內(nèi)計(jì)算。

本次,三星電子的研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)構(gòu)建新的MRAM陣列結(jié)構(gòu),用基于28nm CMOS工藝的MRAM陣列芯片運(yùn)行了手寫(xiě)數(shù)字識(shí)別和人臉檢測(cè)等AI算法,準(zhǔn)確率分別為98%和93%。

01.研究擴(kuò)展存內(nèi)計(jì)算類型,填補(bǔ)MRAM空白

在傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)架構(gòu)中,數(shù)據(jù)需要從內(nèi)存移動(dòng)到處理單元,然后將中間結(jié)果存儲(chǔ)回內(nèi)存。但這種無(wú)謂的信息傳輸不僅增加了計(jì)算延遲,也提升了相關(guān)功耗。

根據(jù)臺(tái)積電此前對(duì)存內(nèi)計(jì)算的研究,數(shù)據(jù)移動(dòng)所消耗的能量甚至大于計(jì)算的能量消耗。因此,在內(nèi)存中同時(shí)執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和計(jì)算的存內(nèi)計(jì)算成為了行業(yè)與學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)研究的焦點(diǎn)。

此前的研究中,非易失性的RRAM(電阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和PRAM(相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)是存內(nèi)計(jì)算最常用的兩類存儲(chǔ)器。相比之下,盡管MRAM器件在操作速度、耐用性和量產(chǎn)等方面具有優(yōu)勢(shì),但其較低的電阻使MRAM存儲(chǔ)器在傳統(tǒng)的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)中無(wú)法達(dá)到低功耗要求。

在本篇論文中,三星電子的研究人員構(gòu)建了一種基于MRAM的新存內(nèi)計(jì)算架構(gòu),填補(bǔ)了這種空白。論文特別寫(xiě)道,該研究并非和基于其他存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)競(jìng)爭(zhēng)。到目前為止,沒(méi)有一種存儲(chǔ)器類型在電子產(chǎn)品中占據(jù)絕對(duì)主導(dǎo),因?yàn)椴煌愋偷拇鎯?chǔ)器各有自身的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。因此,基于不同存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算也可能發(fā)展成不同的架構(gòu)。

從這個(gè)角度看,三星電子通過(guò)填補(bǔ)基于MRAM存儲(chǔ)器的存內(nèi)計(jì)算架構(gòu)空白,有助于存內(nèi)計(jì)算發(fā)展。

02.基于28nm CMOS工藝,準(zhǔn)確檢測(cè)1851張人臉

三星電子構(gòu)建了一個(gè)64×64的MRAM陣列,其外圍電路通過(guò)28nm CMOS工藝進(jìn)行了集成。

具體結(jié)構(gòu)上來(lái)說(shuō),MRAM陣列在寫(xiě)/讀(W/R)電子元件和底部的TDC讀出電子元件之間,輸入數(shù)據(jù)控制器(IN)位于陣列左側(cè)。

為了彌補(bǔ)MRAM小電阻的問(wèn)題,三星電子引入了一種新的位單元(陣列行列交叉處的元素,bit-cell),每個(gè)位單元組合成兩條路徑,每條路徑則由一個(gè)MTJ(磁性隧道結(jié))和一個(gè)FET(場(chǎng)效應(yīng)管)開(kāi)關(guān)串聯(lián)組成。

▲芯片布局與MRAM陣列排布(圖片來(lái)源:Nature)

研究人員將每列中這些新的位單元串聯(lián)起來(lái),每個(gè)位單元的輸出電阻相加便得到了列電阻R。通過(guò)新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),列電阻R取代了傳統(tǒng)(存內(nèi)計(jì)算)結(jié)構(gòu)中基于基爾霍夫定律的列電流總和,成為了列輸出,解決了MRAM器件電阻較小的問(wèn)題。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是三星電子開(kāi)發(fā)了一種MRAM陣列芯片,用新的“電阻總和”內(nèi)存計(jì)算架構(gòu)取代了標(biāo)準(zhǔn)的“電流和”內(nèi)存計(jì)算架構(gòu),從而解決了單個(gè)MRAM器件的小電阻問(wèn)題。

為了將這種新的MRAM陣列用于AI計(jì)算,研究人員采用了二值神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BNN)算法。這種算法的精度可以以網(wǎng)絡(luò)大小為代價(jià),將每個(gè)實(shí)值權(quán)值表示為二值化函數(shù),或以計(jì)算速度為代價(jià)將每個(gè)實(shí)值輸入數(shù)據(jù)表示為多個(gè)二值化函數(shù)序列,以提高BNN算法的精度。

該研究中,三星電子采用了后一種方式,將每個(gè)輸入數(shù)據(jù)擴(kuò)展為8位編碼,以抑制噪聲。之后,研究人員用兩層BNN網(wǎng)絡(luò)以對(duì)MNIST數(shù)據(jù)集進(jìn)行分類。

MNIST數(shù)據(jù)集來(lái)自美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(NIST),訓(xùn)練集和測(cè)試集均由不同的手寫(xiě)數(shù)字組成,數(shù)據(jù)集和測(cè)試集50%的手寫(xiě)數(shù)字來(lái)自高中生,另外50%來(lái)自美國(guó)人口普查局的工作人員。

▲不同的手寫(xiě)數(shù)字7(圖片來(lái)源:CSDN)

研究人員用MRAM陣列執(zhí)行了對(duì)1萬(wàn)個(gè)手寫(xiě)數(shù)字圖像的分類,并重復(fù)了三次,得到了93.23±0.05%的準(zhǔn)確率。測(cè)試后,研究人員又通過(guò)VGG-8神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)1萬(wàn)個(gè)手寫(xiě)數(shù)字圖像進(jìn)行了分類,其準(zhǔn)確率高達(dá)98.86±0.06%。

除了手寫(xiě)數(shù)字分類,三星電子還用4個(gè)MRAM陣列芯片運(yùn)行了人臉檢測(cè)算法。在這一步,MRAM陣列芯片并沒(méi)有對(duì)場(chǎng)景中的所有對(duì)象進(jìn)行人臉認(rèn)證,而是先檢測(cè)場(chǎng)景中是否存在人臉,確認(rèn)存在后再激活更高功率的人臉認(rèn)證算法。

通過(guò)這種方法,MRAM陣列芯片從2000個(gè)無(wú)遮罩人臉場(chǎng)景中檢測(cè)到1851張人臉,準(zhǔn)確率為92.5%;從500個(gè)遮罩人臉場(chǎng)景中檢測(cè)到483張人臉,準(zhǔn)確率為96.6%,總體準(zhǔn)確率為93.4%。此外,MRAM陣列芯片可以和相機(jī)結(jié)合實(shí)時(shí)檢測(cè)人臉。

▲4個(gè)MRAM陣列芯片與相機(jī)相連實(shí)時(shí)人臉檢測(cè)(圖片來(lái)源:Nature)

03.集成多種器件面臨挑戰(zhàn),未來(lái)或可用于生物神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)

對(duì)于這項(xiàng)研究,研究人員寫(xiě)道,MRAM陣列運(yùn)行存內(nèi)計(jì)算的一個(gè)重要挑戰(zhàn)是構(gòu)建AI SoC(片上系統(tǒng)),將許多陣列和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)字電子設(shè)備進(jìn)行集成。

研究人員還強(qiáng)調(diào),寬泛來(lái)說(shuō),內(nèi)存陣列不僅可以用來(lái)運(yùn)算神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法,也可以作為潛在的生物神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)載體。

2021年9月,三星電子和哈佛聯(lián)合在Nature子刊Nature Electronics上發(fā)表了名為《Neuromorphic electronics based on copying and pasting the brain(基于復(fù)制和粘貼大腦的神經(jīng)形態(tài)電子學(xué))》的論文,提出了一種將大腦神經(jīng)元連接圖(neuronal wiring map)“復(fù)制、粘貼”到高密度3維存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)上的可能。

▲三星此前“復(fù)制、粘貼”大腦的研究(圖片來(lái)源:Nature)

MRAM陣列研究的第一作者Seungchul Jung稱,存內(nèi)計(jì)算與人類大腦的計(jì)算類似,因?yàn)槿祟惖挠?jì)算也發(fā)生在記憶或突觸網(wǎng)絡(luò)中。雖然MRAM陣列當(dāng)前的計(jì)算目的并非模仿大腦,但這種固態(tài)存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)將來(lái)可能會(huì)被用作模擬大腦突觸的平臺(tái)。

04.結(jié)語(yǔ):新研究或?qū)⒇S富三星存內(nèi)計(jì)算產(chǎn)品

近年來(lái),存內(nèi)計(jì)算已逐漸成為產(chǎn)業(yè)界和學(xué)術(shù)界的公識(shí),相關(guān)論文反復(fù)出現(xiàn)在ISSCC和IEDM等電子領(lǐng)域的頂級(jí)會(huì)議中,臺(tái)積電等半導(dǎo)體頭部廠商也都在布局和探索。

三星電子作為全球存儲(chǔ)龍頭,更是一直在關(guān)注存內(nèi)計(jì)算技術(shù)。去年2月,三星電子便公布了其首款集成了AI計(jì)算能力的高帶寬內(nèi)存(HBM),可以節(jié)省70%以上的能耗并提供2倍以上的系統(tǒng)性能。本次基于MRAM的存內(nèi)計(jì)算研究豐富了三星在存內(nèi)計(jì)算領(lǐng)域的布局,未來(lái)或許能夠看到更多類型的存內(nèi)計(jì)算產(chǎn)品出現(xiàn)在市場(chǎng)上。

本文為轉(zhuǎn)載內(nèi)容,授權(quán)事宜請(qǐng)聯(lián)系原著作權(quán)人。